仪器简介
电感耦合等离子刻蚀设备,通过等离子体辉光放电将反应气体分解,产生的等离子体在电场的加速作用下移动到样品表面,对样品表面进行刻蚀作用。
性能指标
6"及以下wafer、chip;刻蚀均匀性±3%(6"wafer);刻蚀精度:0.01um
应用范围
主要用于Si、SiO2、SIN 、graphene,ITO、Al2O3、GaN、GaAs、InGaAs等材料的干法刻蚀。
工艺图:
0.3um 石英孔链
光学硅透镜器件
浅硅槽刻蚀