Leuven ICP刻蚀设备

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仪器简介

电感耦合等离子刻蚀设备,通过等离子体辉光放电将反应气体分解,产生的等离子体在电场的加速作用下移动到样品表面,对样品表面进行刻蚀作用。


性能指标

6"及以下wafer、chip;刻蚀均匀性±3%(6"wafer);刻蚀精度:0.01um


应用范围

主要用于Si、SiO2、SIN 、graphene,ITO、Al2O3、GaN、GaAs、InGaAs等材料的干法刻蚀。


工艺图:


0.3um 石英孔链

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光学硅透镜器件

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浅硅槽刻蚀

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